ИНФОРМАЦИОННЫЕ ОСОБЕННОСТИ СВЕТОВОДНОЙ ДЕФЕКТОСКОПИИ ВНУТРЕННИХ ПОВЕРХНОСТЕЙ


https://doi.org/10.21122/1683-6065-2008-4-86-92

Полный текст:




Аннотация

.

Об авторах

А. П. Марков
Белорусско-Российский университет
Беларусь


В. В. Потапкин
Белорусско-Российский университет
Беларусь


Е. И. Марукович
Институт технологии металлов НАН Беларуси
Беларусь


Е. М. Патук
Институт технологии металлов НАН Беларуси
Беларусь


А. В. Иванов
Белгазпромдиагностика
Беларусь


А. Г. Старовойтов
Могилевэнерго
Беларусь


Список литературы

1. Визуально-оптическая дефектоскопия и размерный контроль в литейном производстве / Е. И. Марукович и др.; под общ. ред. Е. И. Маруковича. Мн.: Белорусская наука, 2007.

2. Неразрушающий контроль. В 5-ти кн. Кн. 4: Контроль излучениями: практ. пособ. / Б. Н. Епифанцев, Е. А. Гусев, В. И. Матвеев и др.; под ред. В. В. Сухорукова. М.: Высш. шк., 1992.

3. Мирошников М. М. Теоретические основы оптико-электронных приборов: Учеб. пособ. для приборостроительных вузов. 2-е изд., перераб. и доп. Л.: Машиностроение. Ленингр. отд-ние, 1983.

4. Оптические волокна и волоконные элементы / Под ред. К. И. Блох. М.: Химия, 1972.

5. Вейнберг В. Б. Оптика световодов / В. Б. Вейнберг, Д. К. Саттаров. 2-е изд., перераб. и доп. М.: Машиностроение, 1977.

6. Бутусов М. М., Галкин С. Л., Оробинский С. П., Пал Б. П. Волоконная оптика и приборостроение / Под общ. ред. М. М. Бутусова. Л.: Машиностроение. Ленингр. отд-ние, 1987.

7. Марукович Е. И., Марков А. П., Коннов В. Вс., Кеткович А. А. Методология совершенствования технологического контроля в литейном производстве // Литье и металлургия. 2007. № 4 (44). С. 96-103.

8. Марукович Е. И., Марков А. П., Ефименко Д. В. и др. Оптико-электронное скопирование внутренних поверхностей в литье и металлургии // Литье и металлургия. 2008. № 2 (46). С. 28-32.


Дополнительные файлы

Для цитирования: Марков А.П., Потапкин В.В., Марукович Е.И., Патук Е.М., Иванов А.В., Старовойтов А.Г. ИНФОРМАЦИОННЫЕ ОСОБЕННОСТИ СВЕТОВОДНОЙ ДЕФЕКТОСКОПИИ ВНУТРЕННИХ ПОВЕРХНОСТЕЙ. Литье и металлургия. 2008;(4):86-92. https://doi.org/10.21122/1683-6065-2008-4-86-92

For citation: Markov A.P., Potapkin V.V., Marukovich E.I., Patuk E.M., Ivanov A.V., Starovoitov A.G. INFORMATIONAL PECULIARITIES OF WAVEGUIDE DEFECTOSCOPY OF INTERNAL SURFACES. Litiyo i Metallurgiya (FOUNDRY PRODUCTION AND METALLURGY). 2008;(4):86-92. (In Russ.) https://doi.org/10.21122/1683-6065-2008-4-86-92

Просмотров: 383

Обратные ссылки

  • Обратные ссылки не определены.


Creative Commons License
Контент доступен под лицензией Creative Commons Attribution 4.0 License.


ISSN 1683-6065 (Print)
ISSN 2414-0406 (Online)