Измерение вертикального рельефа на металлографических микроскопах производства ОАО «Оптоэлектронные системы»


https://doi.org/10.21122/1683-6065-2019-2-117-121

Полный текст:


Аннотация

Проиллюстрированы возможности измерения глубины рельефа поверхности на металлографических микроскопах производства ОАО «Оптоэлектронные системы». Для микроскопов МИ-1 и МИКРО-200 рассматривается методика определения высоты рельефа, в основу которой положена связь между углом поворота барабана настройки точной фокусировки и вертикальным перемещением предметного столика. Приводятся примеры измерения глубины кратеров после воздействия лазерного излучения на металлическую поверхность. Для микроскопов МИ-1 и МИКРО-200 глубина лунки была определена как 99,36 и 99,8 мкм соответственно, что согласуется с данными профилометра (~100 мкм). Для плоскопараллельной кварцевой пластинки результаты измерений составили 0,435 мкм при определении микроскопически, а также объект-микрометром. Рассматривается возможность определения толщины покрытий нитрида титана методом дифференциально-интерференционного контраста. Метод позволяет определение толщины по разности интерференционных цветов, если участки изображения находятся на различной высоте. Оценить толщину покрытия можно с использованием номограммы двойного лучепреломления.


Об авторах

А. Г. Анисович
Физико-технический институт НАН Беларуси
Беларусь
г. Минск, ул. Купревича, 10. 


А. С. Буйницкая
Физико-технический институт НАН Беларуси
Беларусь
г. Минск, ул. Купревича, 10. 


Список литературы

1. Кузнецов П. М., Федоров В. А. Особенности формирования рельефа на поверхности металлов в зоне воздействия лазерного излучения // Вест. Тамб. ун-та. Сер. Естественные и технические науки. 2015. Т. 20. № 4. С. 872–877.

2. Захарченко А. А. Морфологические методы интерпретации измерений рельефа поверхности с помощью оптического микроскопа: автореф. дис. … канд. физ.-мат. наук. М., 2006.

3. Анисович А. Г. Применение метода дифференциально-интерференционного контраста в материаловедении // В мире неразрушающего контроля. 2018. Т. 21. № 1. С. 66–69.


Дополнительные файлы

Для цитирования: Анисович А.Г., Буйницкая А.С. Измерение вертикального рельефа на металлографических микроскопах производства ОАО «Оптоэлектронные системы». Литье и металлургия. 2019;(2):117-121. https://doi.org/10.21122/1683-6065-2019-2-117-121

For citation: Anisovich A.G., Buinitskaya A.S. The measurement of the vertical relief on metal-graphic microscopes of production of OJC «Optoelectronic systems». Litiyo i Metallurgiya (FOUNDRY PRODUCTION AND METALLURGY). 2019;(2):117-121. (In Russ.) https://doi.org/10.21122/1683-6065-2019-2-117-121

Просмотров: 42

Обратные ссылки

  • Обратные ссылки не определены.


Creative Commons License
Контент доступен под лицензией Creative Commons Attribution 4.0 License.


ISSN 1683-6065 (Print)
ISSN 2414-0406 (Online)