Измерение вертикального рельефа на металлографических микроскопах производства ОАО «Оптоэлектронные системы»
https://doi.org/10.21122/1683-6065-2019-2-117-121
Аннотация
Проиллюстрированы возможности измерения глубины рельефа поверхности на металлографических микроскопах производства ОАО «Оптоэлектронные системы». Для микроскопов МИ-1 и МИКРО-200 рассматривается методика определения высоты рельефа, в основу которой положена связь между углом поворота барабана настройки точной фокусировки и вертикальным перемещением предметного столика. Приводятся примеры измерения глубины кратеров после воздействия лазерного излучения на металлическую поверхность. Для микроскопов МИ-1 и МИКРО-200 глубина лунки была определена как 99,36 и 99,8 мкм соответственно, что согласуется с данными профилометра (~100 мкм). Для плоскопараллельной кварцевой пластинки результаты измерений составили 0,435 мкм при определении микроскопически, а также объект-микрометром. Рассматривается возможность определения толщины покрытий нитрида титана методом дифференциально-интерференционного контраста. Метод позволяет определение толщины по разности интерференционных цветов, если участки изображения находятся на различной высоте. Оценить толщину покрытия можно с использованием номограммы двойного лучепреломления.
Об авторах
А. Г. АнисовичБеларусь
г. Минск, ул. Купревича, 10.
А. С. Буйницкая
Беларусь
г. Минск, ул. Купревича, 10.
Список литературы
1. Кузнецов П. М., Федоров В. А. Особенности формирования рельефа на поверхности металлов в зоне воздействия лазерного излучения // Вест. Тамб. ун-та. Сер. Естественные и технические науки. 2015. Т. 20. № 4. С. 872–877.
2. Захарченко А. А. Морфологические методы интерпретации измерений рельефа поверхности с помощью оптического микроскопа: автореф. дис. … канд. физ.-мат. наук. М., 2006.
3. Анисович А. Г. Применение метода дифференциально-интерференционного контраста в материаловедении // В мире неразрушающего контроля. 2018. Т. 21. № 1. С. 66–69.
Рецензия
Для цитирования:
Анисович А.Г., Буйницкая А.С. Измерение вертикального рельефа на металлографических микроскопах производства ОАО «Оптоэлектронные системы». Литье и металлургия. 2019;(2):117-121. https://doi.org/10.21122/1683-6065-2019-2-117-121
For citation:
Anisovich A.G., Buinitskaya A.S. The measurement of the vertical relief on metal-graphic microscopes of production of OJC «Optoelectronic systems». Litiyo i Metallurgiya (FOUNDRY PRODUCTION AND METALLURGY). 2019;(2):117-121. (In Russ.) https://doi.org/10.21122/1683-6065-2019-2-117-121