Preview

Особенности металлографического препарирования для анализа тонких слоев и покрытий

https://doi.org/10.21122/1683-6065-2020-2-59-62

Полный текст:

Аннотация

В статье рассматриваются вопросы определения толщины слоев и покрытий различного назначения при металлографическом исследовании. Продемонстрирована роль материала для заливки металлографических шлифов в определении толщины слоя. Показано, что при заливке образца пластическими массами ошибка в определении толщины слоя может составлять 0,2–0,4 мкм, что существенно для тонких слоев. Рассматриваются варианты пробоподготовки для определения толщины слоев нитрида титана толщиной 1 мкм и менее. Показано, что при оптимальном способе подготовки образца возможно визуализировать слой толщиной менее 1 мкм, а также определить его толщину в программе обработки изображений.

Для цитирования:


Анисович А.Г. Особенности металлографического препарирования для анализа тонких слоев и покрытий. Литье и металлургия. 2020;(2):59-62. https://doi.org/10.21122/1683-6065-2020-2-59-62

For citation:


Anisovich A.G. Particularities of metallographic preparation for the analysis of thin layers and coatings. Foundry production and metallurgy. Litiyo i Metallurgiya (FOUNDRY PRODUCTION AND METALLURGY). 2020;(2):59-62. (In Russ.) https://doi.org/10.21122/1683-6065-2020-2-59-62

Просмотров: 497


Creative Commons License
Контент доступен под лицензией Creative Commons Attribution 4.0 License.


ISSN 1683-6065 (Print)
ISSN 2414-0406 (Online)