КОНТРОЛЬ ТОЛЩИНЫ ТОНКИХ ПОКРЫТИЙ НА ПРОТЯЖЕННЫХ ОБРАЗЦАХ МЕТОДОМ АТОМНОГО ЭМИССИОННОГО СПЕКТРАЛЬНОГО АНАЛИЗА
Аннотация
Об авторах
А. Г. НепокойчицкийБеларусь
К. В. Францкевич
Беларусь
С. Г. Асташенко
Беларусь
Список литературы
1. Непокойчицкий А. Г., Янковский А. А. Спектральное определение толщин металлических покрытий // Журн. прикл. спектр. 1964. Т. 1. № 4. С. 328–332.
2. Безух Б. А., Непокойчицкий А. Г., Петух М. Л., Янковский А. А. Экспрессное определение толщины металлических покрытий на стилометре ФЭС-1 // Применение спектрального анализа в народном хозяйстве и научных исследованиях. Мн., 1967. С. 22.
3. Манкевич В. Н., Непокойчицкий А. Г., Скиба П. А. Лазерно-электроразрядный способ определения толщины металлических покрытий // Журн. прикл. спектр. 1976. Т. 24. № 1. С. 139–141.
4. Непокойчицкий А. Г., Скиба П. А. Спектральный контроль многослойных металлических покрытий // Журн. прикл. спектр. 1980. Т. 32. № 2. С. 206–209.
5. Непокойчицкий А. Г. Универсальный штатив для эмиссионного спектрального анализа // Применение спектрального анализа в народном хозяйстве и научных исследованиях. Мн., 1983. С. 52–53.
6. Игнатов Б. И., Непокойчицкий А. Г., Францкевич К. В., Асташенко С. Г., Гриднев Н. С. Автоматизированный спектральный комплекс для анализа пищевых продуктов // Журн. прикл. спектр. 1994. Т. 61. № 3–4. 291–296.
7. Францкевич К. В. Градуировочные характеристики при атомном спектральном анализе биологических объектов // Журн. прикл. спектр. 2006. Т. 73. № 2. С. 232–235.
Дополнительные файлы
Для цитирования: Непокойчицкий А.Г., Францкевич К.В., Асташенко С.Г. КОНТРОЛЬ ТОЛЩИНЫ ТОНКИХ ПОКРЫТИЙ НА ПРОТЯЖЕННЫХ ОБРАЗЦАХ МЕТОДОМ АТОМНОГО ЭМИССИОННОГО СПЕКТРАЛЬНОГО АНАЛИЗА. Литье и металлургия. 2010;(3):79-81.
For citation: Nepokojchitsky A.G., Frantskevich K.V., Astashenko S.G. CONTROL OF THIN COVERINGS ON EXTENSIVE SAMPLES BY MEANS OF ATOMIC EMISSIVE SPECTRAL ANALYSIS. Litiyo i Metallurgiya (FOUNDRY PRODUCTION AND METALLURGY). 2010;(3):79-81. (In Russ.)
Обратные ссылки
- Обратные ссылки не определены.