ПРИМЕНЕНИЕ РАСТРОВОГО ЭЛЕКТРОННОГО МИКРОСКОПА, ОСНАЩЕННОГО СИСТЕМОЙ МИКРОАНАЛИЗА ДЛЯ ИССЛЕДОВАНИЯ КАЧЕСТВА ЛАТУННОГО ПОКРЫТИЯ

Для цитирования:

Куренкова Т.П., Возная В.И. ПРИМЕНЕНИЕ РАСТРОВОГО ЭЛЕКТРОННОГО МИКРОСКОПА, ОСНАЩЕННОГО СИСТЕМОЙ МИКРОАНАЛИЗА ДЛЯ ИССЛЕДОВАНИЯ КАЧЕСТВА ЛАТУННОГО ПОКРЫТИЯ. Литье и металлургия. 2010;(3):110-114. https://doi.org/10.21122/1683-6065-2010-3-110-114

For citation:

Kurenkova T.P., Voznaja V.I. APPLICATION OF SCANNING ELECTRON MICROSCOPE EQUIPPED WITH THE MICROANALYSIS SYSTEM FOR INVESTIGATION OF BRASS COVERING. Litiyo i Metallurgiya (FOUNDRY PRODUCTION AND METALLURGY). 2010;(3):110-114. (In Russ.) https://doi.org/10.21122/1683-6065-2010-3-110-114