ИНФОРМАЦИОННЫЕ ОСОБЕННОСТИ СВЕТОВОДНОЙ ДЕФЕКТОСКОПИИ ВНУТРЕННИХ ПОВЕРХНОСТЕЙ
https://doi.org/10.21122/1683-6065-2008-4-86-92
Об авторах
А. П. Марков
Белорусско-Российский университет
Беларусь
Беларусь
В. В. Потапкин
Белорусско-Российский университет
Беларусь
Беларусь
Е. И. Марукович
Институт технологии металлов НАН Беларуси
Беларусь
Беларусь
Е. М. Патук
Институт технологии металлов НАН Беларуси
Беларусь
Беларусь
А. В. Иванов
Белгазпромдиагностика
Беларусь
Беларусь
А. Г. Старовойтов
Могилевэнерго
Беларусь
Беларусь
Список литературы
1. Визуально-оптическая дефектоскопия и размерный контроль в литейном производстве / Е. И. Марукович и др.; под общ. ред. Е. И. Маруковича. Мн.: Белорусская наука, 2007.
2. Неразрушающий контроль. В 5-ти кн. Кн. 4: Контроль излучениями: практ. пособ. / Б. Н. Епифанцев, Е. А. Гусев, В. И. Матвеев и др.; под ред. В. В. Сухорукова. М.: Высш. шк., 1992.
3. Мирошников М. М. Теоретические основы оптико-электронных приборов: Учеб. пособ. для приборостроительных вузов. 2-е изд., перераб. и доп. Л.: Машиностроение. Ленингр. отд-ние, 1983.
4. Оптические волокна и волоконные элементы / Под ред. К. И. Блох. М.: Химия, 1972.
5. Вейнберг В. Б. Оптика световодов / В. Б. Вейнберг, Д. К. Саттаров. 2-е изд., перераб. и доп. М.: Машиностроение, 1977.
6. Бутусов М. М., Галкин С. Л., Оробинский С. П., Пал Б. П. Волоконная оптика и приборостроение / Под общ. ред. М. М. Бутусова. Л.: Машиностроение. Ленингр. отд-ние, 1987.
7. Марукович Е. И., Марков А. П., Коннов В. Вс., Кеткович А. А. Методология совершенствования технологического контроля в литейном производстве // Литье и металлургия. 2007. № 4 (44). С. 96-103.
8. Марукович Е. И., Марков А. П., Ефименко Д. В. и др. Оптико-электронное скопирование внутренних поверхностей в литье и металлургии // Литье и металлургия. 2008. № 2 (46). С. 28-32.
Рецензия
Для цитирования:
Марков А.П., Потапкин В.В., Марукович Е.И., Патук Е.М., Иванов А.В., Старовойтов А.Г. ИНФОРМАЦИОННЫЕ ОСОБЕННОСТИ СВЕТОВОДНОЙ ДЕФЕКТОСКОПИИ ВНУТРЕННИХ ПОВЕРХНОСТЕЙ. Литье и металлургия. 2008;(4):86-92. https://doi.org/10.21122/1683-6065-2008-4-86-92
For citation:
Markov A.P., Potapkin V.V., Marukovich E.I., Patuk E.M., Ivanov A.V., Starovoitov A.G. INFORMATIONAL PECULIARITIES OF WAVEGUIDE DEFECTOSCOPY OF INTERNAL SURFACES. Litiyo i Metallurgiya (FOUNDRY PRODUCTION AND METALLURGY). 2008;(4):86-92. (In Russ.) https://doi.org/10.21122/1683-6065-2008-4-86-92
Просмотров:
427
Послать статью по эл. почте 