Для цитирования:

Куренкова Т.П., Возная В.И. ПРИМЕНЕНИЕ РАСТРОВОГО ЭЛЕКТРОННОГО МИКРОСКОПА, ОСНАЩЕННОГО СИСТЕМОЙ МИКРОАНАЛИЗА ДЛЯ ИССЛЕДОВАНИЯ КАЧЕСТВА ЛАТУННОГО ПОКРЫТИЯ. Литье и металлургия. 2012;(3):179-183.

For citation:

Kurenkova T.P., Voznaya V.I. THE USE OF SCANNING ELECTRON MICROSCOPY WITH MICROANALYSIS SYSTEM FOR THE STUDY OF QUALITY OF BRASS COATING. Litiyo i Metallurgiya (FOUNDRY PRODUCTION AND METALLURGY). 2012;(3):179-183. (In Russ.)